مقدمه ای بر اجزای مکانیکی اصلی میکروسکوپ های معکوس
(1) نگهدارنده آینه: پایه یک میکروسکوپ است که برای پشتیبانی از کل بدنه آینه استفاده می شود.
(2) ستون آینه: قسمت عمودی بالای پایه آینه است که برای اتصال پایه آینه و بازوی آینه استفاده می شود.
(3) بازوی آینه: یک سر آن به ستون آینه و انتهای دیگر به بشکه لنز متصل است. این قسمت نگهدارنده دست هنگام برداشتن و قرار دادن میکروسکوپ است.
(4) لوله: متصل به قسمت جلویی بالای بازوی آینه، انتهای بالایی لوله مجهز به چشمی و انتهای پایینی مجهز به مبدل شیئی است.
(5) مبدل لنز شیئی (روتاتور): متصل به پایین محفظه منشور، می تواند آزادانه بچرخد. روی دیسک 3-4 سوراخ دایره ای وجود دارد که برای نصب لنز شیئی استفاده می شود. با چرخاندن مبدل می توان بزرگنمایی های مختلف عدسی شیئی را رد و بدل کرد. هنگامی که صدای تق تق شنیده می شود، می توان مشاهده کرد. در این زمان، محور نوری عدسی شیئی دقیقاً با مرکز سوراخ عبوری تراز شده و مسیر نوری متصل می شود.
(6) مرحله آینه (مرحله): در زیر بشکه عدسی، دو شکل وجود دارد: مربع و دایره، که برای قرار دادن نمونه های اسلاید شیشه ای استفاده می شود. یک سوراخ نور در مرکز وجود دارد. میکروسکوپی که ما استفاده می کنیم مجهز به یک فشار دهنده نمونه اسلاید (اسلاید هل دهنده) در مرحله آینه است و یک گیره فنری در سمت چپ هل دهنده برای نگه داشتن نمونه اسلاید وجود دارد. یک چرخ تنظیم فشار دهنده در زیر مرحله آینه وجود دارد که می تواند نمونه اسلاید را در جهت های چپ، راست، جلو و عقب حرکت دهد.
(7) تنظیم کننده: یک پیچ در دو اندازه است که بر روی ستون آینه نصب شده است که در هنگام تنظیم سکوی آینه را به سمت بالا و پایین حرکت می دهد.
① تنظیم کننده درشت (مارپیچ درشت): مارپیچ بزرگ را تنظیم کننده درشت می گویند که می تواند به سرعت و به طور قابل توجهی مرحله را در هنگام حرکت بالا و پایین کند، بنابراین می تواند به سرعت فاصله بین عدسی شی و نمونه را تنظیم کند تا جسم را در میدان دید نمایش دهد. معمولاً هنگام استفاده از یک آینه با بزرگنمایی کم، از تنظیم کننده درشت برای یافتن سریع جسم استفاده می شود.
② تنظیم کننده ظریف (مارپیچ خوب): یک مارپیچ کوچک تنظیم کننده ظریف نامیده می شود که هنگام حرکت می تواند به آرامی مرحله را بالا و پایین کند. معمولاً هنگام استفاده از آینههای{1} پرقدرت برای به دست آوردن تصاویر واضحتر و مشاهده ساختار نمونهها در سطوح و اعماق مختلف استفاده میشود.
