روش تنظیم میکروسکوپ ابزار اندازه گیری STM6
با توجه به اشکال زدایی دستگاه میکروسکوپ ابزار اندازه گیری Olympus STM6، از دیدگاه کاربردی، عمدتاً شامل تنظیم افقی مرحله، تنظیم ضد شوک میز کار، تنظیم افقی خط متر چشمی، تنظیم افقی سیستم ویدئویی و تصحیح دقت و غیره، در اینجا خلاصه ای وجود دارد:
1. تنظیم سطح صحنه: با توجه به سطح قرار داده شده روی صحنه، تعیین کنید که آیا صحنه تراز است یا خیر. در صورت نیاز به تنظیم، سه پایه نگهدارنده را مطابق با وضعیت واقعی تنظیم کنید تا حباب های سطح روی خط کش باقی بمانند. فقط در اطراف مرکز.
2. تنظیم ضد لرزش میز کار: اگر در هنگام روشن شدن دستگاه، داده های روی صفحه نمایش داده ها ناپایدار باشند، می توان قضاوت کرد که میز کار به اندازه کافی پایدار نیست. این کار را می توان با افزودن یک پد ضد لرزش به میز کار یا جایگزینی آن با یک میز کار قوی تر انجام داد.
3. تنظیم افقی خط عمودی چشمی: یک نقطه چشم نواز کوچک در میدان دید چشمی با فوکوس واضح پیدا کنید و آن را به یک انتهای خط عمودی چشمی منتقل کنید (هر دو جهت X و Y قابل قبول هستند، در اینجا جهت X به عنوان نیرو استفاده می شود) و آنها را تراز کنید، دسته جهت X را تکان دهید تا نقطه کوچک را در امتداد خط علامت گذاری جهت X به انتهای دیگر منتقل کنید. اگر نقطه کوچک از اشکال زدایی مکرر منحرف شود تا زمانی که مرحله در جهت X حرکت می کند، نقطه کوچک همیشه می تواند روی خط علامت گذاری جهت X بماند.
4. تنظیم افقی سیستم تصویری: (این پروژه عموماً نیازی به تنظیم ندارد، مگر اینکه میکروسکوپ مجهز به مرحله چرخشی باشد و کاربر نیاز به تنظیم سطح اجزاء از طریق سیستم تنظیم فرکانس داشته باشد) بلوک سنج استاندارد را روی مرحله چرخش، و از چشمی های تنظیم شده استفاده کنید. کل بلوک را در سطح با خط متر مربع تنظیم کنید. CCD (سیستم ویدیویی) و رابط ویدیویی را سفت کنید، آن را به رابط میکروسکوپ متصل کرده و قفل کنید. یک انتهای گیج بلوک را به انتهای خط علامت گذاری جهت X خط متقاطع در پنجره نرم افزار نزدیک کنید و X را تکان دهید دسته محور به نرم افزار اجازه می دهد تا انتهای دیگر گیج بلوک را مشاهده کند. اگر گیج سریع از محور X منحرف شد، CCD را بچرخانید تا گیج بلوک به محور X نزدیک شود (این روش تنظیم مانند روش تنظیم چشمی است). این تنظیم را تا زمانی تکرار کنید که گیج بلوک همیشه در جهت X حرکت کند. در این زمان می توان سیستم مختصات فیزیکی CCD را موازی با سیستم مختصات مکانیکی مرحله میکروسکوپ در نظر گرفت.
