اصل کار ضخامت سنج آنلاین پوشش لایه نازک چیست

اصل کار ضخامت سنج آنلاین پوشش لایه نازک چیست

ضخامت سنج آنلاین پوشش لایه نازک اندازه گیری و کنترل Jingpu یک ابزار اندازه گیری ضخامت آنلاین است که از اصل فناوری پوشش نوری برای تشخیص ضخامت مواد استفاده می کند. اندازه گیری دقیق طیف و کنترل ضخامت سنج لایه نازک آنلاین اغلب برای آزمایش دسته ای ضخامت مواد در خط تولید استفاده می شود. پاسخ به داده های غیرعادی یک پیوند مهم در تولید خودکار است. امروزه به دلیل پیشرفت سریع علم و فناوری، ضخامت سنج های آنلاین پوشش لایه نازک به ابزاری ضروری برای تشخیص دسته ای ضخامت مواد در خط تولید تبدیل شده اند.

امروزه با توجه به پیشرفت سریع علم و فناوری، زمینه بینایی ماشین به سرعت توسعه یافته و به کار گرفته شده است. در زمینه اندازه گیری ضخامت لایه نازک، ضخامت سنج های آنلاین برای پوشش های لایه نازک نیز به سرعت توسعه یافته اند. امروزه با پیشرفت مداوم علم و فناوری، ضخامت‌سنجی انواع و ویژگی‌های فنی دستگاه نیز بهبود زیادی یافته است. در فرآیند استفاده از ضخامت سنج، ترکیب با انواع مختلف ضخامت سنج، استفاده از آن نیز بسیار متفاوت است. اکنون ضخامت سنج پوشش لایه نازک Wuxi Precision Measurement and Control را در نظر بگیرید، برای مثال، اندازه گیری دقیق طیف و پوشش کنترلی (ضخامت فیلم) ضخامت سنج آنلاین روش تداخل نوری نانو را اتخاذ می کند، که می تواند به طور همزمان 20 لایه از پوشش های استفاده نشده را اندازه گیری کند. فیلم ها در همان زمان، و دقت به 1 نانومتر است، که کاملا مشکل تابش سنتی را حل می کند. ضخامت سنج آنلاین دارای معایب تشعشع، دوره افست طولانی، دقت تشخیص پایین و ناتوانی در تشخیص ضخامت پوشش است. ضخامت سنج آنلاین ضخامت پوشش دقیق اندازه گیری و کنترل دارای دقت تشخیص بالایی است و در عین حال می تواند به طور خودکار به صورت آنلاین در زمان واقعی کالیبره کند که به طور موثر دقت تشخیص ضخامت سنج آنلاین را تضمین می کند.

اصل تشخیص ضخامت سنج آنلاین پوشش لایه نازک:

هنگامی که نور با طول موج خاص از مواد مختلف (ضخامت، چگالی، ترکیب متفاوت) عبور می کند، حاشیه های طیفی که پس از بازتاب های متعدد در سطح و داخل تشکیل می شوند، کاملاً متفاوت هستند. این سیستم طیف نور منعکس شده دریافتی را تجزیه و تحلیل می‌کند. ویژگی‌های حاشیه تداخل با منحنی‌های طیفی موجود در کتابخانه سیستم تطبیق و مقایسه می‌شوند و منحنی‌های مشخصه به طور همزمان شبیه‌سازی و برازش می‌شوند و سپس پوشش‌ها با ضخامت‌های اجزای مختلف اندازه‌گیری می‌شوند. برخط.

(1) نور فرود چندین بار بر روی سطوح بالایی و پایینی فیلم منعکس می شود.

(2) شدت نور منعکس شده به ضریب شکست فیلم، ضریب شکست زیرلایه، ضخامت فیلم و طول موج مرتبط است.

(3) در مورد ضریب شکست شناخته شده، ضخامت فیلم را با توجه به تابع شدت نور و طول موج اندازه گیری شده محاسبه کنید.