اصل اندازه گیری جریان گردابی برای ضخامت سنج پوشش
سیگنال های ارتباطی با فرکانس بالا یک میدان الکترومغناطیسی در سیم پیچ پروب ایجاد می کنند و هنگامی که کاوشگر به هادی نزدیک می شود، جریان های گردابی درون آن ایجاد می شود. هر چه کاوشگر به بستر رسانا نزدیکتر باشد، جریان گردابی و امپدانس بازتابی بیشتر میشود. این عمل بازخورد فاصله بین پروب و بستر رسانا را مشخص می کند که ضخامت پوشش غیر رسانا روی بستر رسانا است. با توجه به اینکه این نوع پروب ضخامت سنج پوشش به طور خاص برای اندازه گیری ضخامت پوشش روی بسترهای فلزی غیر فرومغناطیسی طراحی شده است، معمولاً به عنوان پروب غیر مغناطیسی شناخته می شود. کاوشگر غیر مغناطیسی از مواد با فرکانس بالا به عنوان هسته سیم پیچ استفاده می کند. در مقایسه با اصل القای مغناطیسی، تفاوت اصلی این است که پروب ضخامت سنج پوشش متفاوت است، فرکانس سیگنال متفاوت است و اندازه سیگنال و رابطه مقیاس متفاوت است. ضخامت سنج پوشش با استفاده از اصل جریان گردابی میتواند پوششهای نارسانا را بر روی تمام لایههای رسانا مانند رنگ، پوششهای پلاستیکی و فیلمهای آنودایز شده روی سطوح هواپیماهای هوافضا، وسایل نقلیه، لوازم خانگی، درها و پنجرههای آلیاژ آلومینیوم و موارد دیگر اندازهگیری کند. محصولات آلومینیومی ماده پوشش دارای درجه خاصی از رسانایی است که می تواند از طریق کالیبراسیون نیز اندازه گیری شود، اما نسبت رسانایی بین این دو لازم است حداقل 3-5 برابر متفاوت باشد. اگرچه بستر فولادی نیز یک رسانا است، اما اندازه گیری ضخامت پوشش با استفاده از اصول مغناطیسی برای چنین کارهایی مناسب تر است.
چندین عامل موثر بر اندازه گیری ضخامت سنج پوشش. روش مغناطیسی برای اندازه گیری ضخامت تحت تأثیر تغییرات در خواص فلزی زیرلایه قرار می گیرد (در کاربردهای عملی، تغییرات مغناطیسی در فولاد کم کربن را می توان جزئی در نظر گرفت). برای جلوگیری از تأثیر عملیات حرارتی و عوامل کار سرد، ابزار باید با استفاده از یک قطعه استاندارد با خواصی مشابه با فلز زیرلایه نمونه کالیبره شود. رسانایی فلز پایه در اندازه گیری تاثیر دارد و رسانایی فلز پایه به ترکیب مواد و روش عملیات حرارتی آن مربوط می شود. از یک قطعه استاندارد با همان خواص فلز پایه نمونه برای کالیبره کردن ابزار استفاده کنید. هر ابزار دارای یک ضخامت بحرانی است که در بالای آن اندازه گیری تحت تأثیر ضخامت فلز پایه قرار نمی گیرد. حساس به تغییرات شدید در شکل سطح نمونه، اندازه گیری در نزدیکی لبه یا گوشه داخلی نمونه غیر قابل اعتماد است. انحنای نمونه بر اندازهگیری تأثیر میگذارد و با کاهش شعاع انحنا به طور قابلتوجهی افزایش مییابد. بنابراین، اندازه گیری بر روی سطح نمونه خم شده نیز غیر قابل اعتماد است. پروب باعث تغییر شکل نمونه پوشش نرم می شود، بنابراین نمی توان داده های قابل اعتماد را روی این نمونه ها اندازه گیری کرد. زبری سطح فلز پایه و پوشش روی اندازه گیری تاثیر دارد. با افزایش زبری، ضربه افزایش می یابد. سطوح ناهموار می توانند باعث خطاهای سیستماتیک و تصادفی شوند. در طول هر اندازه گیری، تعداد اندازه گیری ها باید در موقعیت های مختلف افزایش یابد تا بر این خطای تصادفی غلبه شود. اگر فلز زیرلایه زبر باشد، لازم است چندین موقعیت روی نمونه فلزی زیرلایه بدون پوشش با زبری مشابه گرفته شود تا نقطه صفر ابزار را کالیبره کنیم، یا پوشش را با محلولی که فلز زیرلایه را خورده نمیکند، حل و جدا کنیم. سپس نقطه صفر ابزار را کالیبره کنید. میدان مغناطیسی قوی تولید شده توسط تجهیزات الکتریکی مختلف در اطراف می تواند به طور جدی در کار اندازه گیری ضخامت مغناطیسی تداخل ایجاد کند. آن دسته از مواد چسبنده که مانع از تماس نزدیک بین پروب و سطح پوشش می شوند باید حذف شوند. در طول اندازه گیری، لازم است فشار ثابتی حفظ شود، پروب عمود بر سطح نمونه باشد، و ضخامت سنج پوشش می تواند اندازه گیری را انجام دهد.
