اشتراک فناوری SEM برای میکروسکوپ الکترونی روبشی
اصل تجزیه و تحلیل SEM با استفاده از میکروسکوپ الکترونی روبشی: استفاده از فناوری الکترونیکی برای شناسایی الکترون‌های ثانویه، الکترون‌های پراکنده، الکترون‌های جذب‌شده، اشعه ایکس و غیره تولید شده در طی برهم‌کنش بین پرتوهای الکترونی پرانرژی و نمونه‌ها و تقویت آن‌ها در تصاویر.
روش های نمایش طیف نگارها شامل تصاویر پس پراکنده، تصاویر الکترون ثانویه، تصاویر جریان جذبی، توزیع خط و سطح عناصر و غیره است.
اطلاعات ارائه شده: مورفولوژی شکست، ریزساختار سطح، ریزساختار داخل فیلم، تجزیه و تحلیل عنصر منطقه میکرو و تجزیه و تحلیل عناصر کمی و غیره
دامنه کاربرد میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM):
1. تجزیه و تحلیل مورفولوژی سطح مواد و مشاهده مورفولوژی منطقه میکرو
2. تجزیه و تحلیل اشکال مختلف مواد، اندازه ها، سطوح، مقاطع، و توزیع اندازه ذرات
3. مشاهده مورفولوژی سطح، تحلیل زبری و ضخامت نمونه های مختلف لایه نازک
پروژه تست SEM
1. تجزیه و تحلیل مورفولوژی سطح مواد و مشاهده مورفولوژی منطقه میکرو
2. تجزیه و تحلیل اشکال مختلف مواد، اندازه ها، سطوح، مقاطع، و توزیع اندازه ذرات
3. مشاهده مورفولوژی سطح، تحلیل زبری و ضخامت نمونه های مختلف لایه نازک
تهیه نمونه های میکروسکوپ الکترونی روبشی ساده تر از نمونه های میکروسکوپ الکترونی عبوری است و نیازی به تعبیه یا برش ندارد.
الزامات نمونه:
نمونه باید جامد باشد. الزامات ترکیب غیر سمی، غیر رادیواکتیو، غیر آلاینده، غیر مغناطیسی، بی آب و پایدار را برآورده کنید.
اصل آماده سازی:
نمونه های دارای آلودگی سطحی باید به درستی تمیز و سپس بدون آسیب رساندن به ساختار سطح نمونه خشک شوند.
شکستگی های تازه شکسته یا برش های عرضی معمولاً برای جلوگیری از آسیب رساندن به شکستگی یا سطح نیازی به درمان ندارند.
وضعیت ساختاری؛
سطح یا شکستگی نمونه مورد فرسایش باید تمیز و خشک شود.
پیش مغناطیس زدایی نمونه های مغناطیسی؛
اندازه نمونه باید برای اندازه نگهدارنده نمونه خاص ابزار مناسب باشد.
روش های رایج:
نمونه فله
مواد رسانای بلوکی: بدون نیاز به آماده سازی نمونه، از چسب رسانا برای چسباندن نمونه به نگهدارنده نمونه برای مشاهده مستقیم استفاده کنید.
مواد نارسانای بلوکی (یا رسانای ضعیف): ابتدا از روش پوشش برای پردازش نمونه استفاده کنید تا از تجمع بار جلوگیری شود و بر کیفیت تصویر تأثیر بگذارد.
