اندازه گیری و تجزیه و تحلیل عدم قطعیت خطای نشانه بزرگنمایی عینی میکروسکوپ
بررسی اجمالی
از زمان تولد اولین میکروسکوپ، میکروسکوپ ها به طور گسترده در آموزش، درمان پزشکی، تحقیقات علمی و سایر زمینه ها مورد استفاده قرار گرفته اند. با پیشرفت مداوم علم و فناوری، استفاده از میکروسکوپ ها بیش از پیش گسترده شده است. به عنوان مثال: در فرآیند تولید برخی از محصولات، اغلب لازم است که قطعات تحت یک بزرگنمایی بصری خاص بررسی شوند. بنابراین برای اطمینان از کیفیت محصولات تولیدی، ابتدا باید از صحت ابزار رصد اطمینان حاصل شود. به عنوان مثال، برای یک میکروسکوپ، چگونه می توانیم بفهمیم که بزرگنمایی آن به میزان تحمل مشخص شده رسیده است؟ این مقاله روشی را برای اندازه گیری خطای مقدار نشانگر بزرگنمایی عدسی شیئی میکروسکوپ معرفی می کند و عدم قطعیت آن را تحلیل می کند.
ابزار اندازه گیری و روش های اندازه گیری
دستگاه کالیبراسیون متشکل از یک خط کش خطی شیشه ای استاندارد (دقت: 0101 میلی متر، محدوده اندازه گیری: 0 میلی متر-1 میلی متر) و یک چشمی میکرومتری (بزرگنمایی: 10 ×، محدوده اندازه گیری: 0mm-16mm) میتواند خطای مقدار نمایشگر بزرگنمایی تعیین عدسی شیئی میکروسکوپ را تکمیل کند. چشمی همراه با میکروسکوپ را با یک چشمی میکرومتری با مقیاس جایگزین کنید و آن را با عدسی شی اصلی ترکیب کنید تا بزرگنمایی های مختلف مورد نیاز را بدست آورید. با استفاده از روش اندازه گیری مستقیم، مشاهده تفاوت بین بزرگنمایی خط کش خطی شیشه ای و بزرگنمایی اسمی عدسی شیئی میکروسکوپ می تواند تعیین کند که آیا بزرگنمایی میکروسکوپ با الزامات مشخص شده مطابقت دارد یا خیر.
تحلیل عدم قطعیت
1 مدل ریاضی:
Δτ=τs - τ
در فرمول: Δτ - خطای نشانگر بزرگنمایی شیئی، میلی متر.
τs - مقدار اسمی بزرگنمایی عدسی شیئی، میلی متر؛
τ - مقدار اندازهگیری شده بزرگنمایی عدسی شیئی، میلیمتر.
نکته: رابطه بین بزرگنمایی عدسی شیئی و طول با تبدیل بزرگنمایی چشمی میکرومتری و مقیاس به دست می آید.
100 میلی متر
2 منبع عدم قطعیت ورودی τ عمدتاً بزرگنمایی عدسی شیئی میکروسکوپ است.
تکرارناپذیری اندازه گیری خطای چندگانه و عدم قطعیت مقدار ثابت چشمی میکرومتر و خط کش خطی شیشه استاندارد به ترتیب با روش های نوع A و نوع B قابل ارزیابی و سنتز می باشد.
