عوامل موثر بر دقت اندازه گیری ضخامت سنج پوشش

عوامل موثر بر دقت اندازه گیری ضخامت سنج پوشش

1. توضیح عوامل تأثیرگذار

a خواص مغناطیسی فلز پایه

اندازه گیری ضخامت مغناطیسی تحت تأثیر تغییر مغناطیسی فلز پایه قرار می گیرد (در کاربردهای عملی، تغییر مغناطیسی فولاد کم کربن را می توان ناچیز در نظر گرفت)، به منظور جلوگیری از تأثیر عملیات حرارتی و عوامل کار سرد، باید از آن استفاده کرد. ورق استاندارد برای کالیبره کردن ابزار استفاده می شود. قطعه آزمایشی که قرار است پوشش داده شود نیز می تواند برای کالیبراسیون استفاده شود.

b خواص الکتریکی فلز پایه

رسانایی فلز پایه بر اندازه گیری تأثیر می گذارد و رسانایی فلز پایه به ترکیب مواد و روش عملیات حرارتی آن مربوط می شود. این ابزار با استفاده از یک ورق استاندارد با همان خواص فلز پایه قطعه آزمایش کالیبره شده است.

c ضخامت فلز پایه

هر ابزار دارای ضخامت بحرانی فلز پایه است. بالاتر از این ضخامت، اندازه گیری تحت تأثیر ضخامت فلز پایه قرار نمی گیرد. برای مقدار بحرانی ضخامت این ابزار به جدول پیوست 1 مراجعه کنید.

d اثر لبه

این ابزار به تغییرات ناگهانی در شکل سطح قطعه تست حساس است. بنابراین اندازه گیری در نزدیکی لبه یا گوشه های داخلی قطعه آزمایش غیرقابل اعتماد است.

انحنای e

انحنای قطعه آزمایش در اندازه گیری تأثیر دارد. این اثر همیشه با کاهش شعاع انحنا به طور قابل توجهی افزایش می یابد. بنابراین، اندازه گیری روی سطح قطعات آزمایشی منحنی قابل اعتماد نیست.

f تغییر شکل نمونه

کاوشگر نمونه های با پوشش نرم را تغییر شکل می دهد بنابراین می توان داده های قابل اعتمادی را روی این نمونه ها به دست آورد.

g زبری سطح

زبری سطح فلز پایه و پوشش روی اندازه گیری تأثیر دارد. هر چه زبری بیشتر باشد، تاثیر آن بیشتر است. سطح ناهموار باعث خطای سیستماتیک و خطای تصادفی می شود و برای غلبه بر این خطای تصادفی باید تعداد اندازه گیری ها در موقعیت های مختلف برای هر اندازه گیری افزایش یابد. اگر فلز پایه زبر است، همچنین لازم است چندین موقعیت روی قطعه آزمایشی فلز پایه بدون پوشش با زبری مشابه گرفته شود تا نقطه صفر ابزار را کالیبره کنید. یا از محلولی که فلز پایه را خورده نمی کند برای حل کردن و حذف لایه پوششی استفاده کنید و سپس دستگاه را کالیبره کنید. صفر

g میدان مغناطیسی

میدان مغناطیسی قوی که توسط تجهیزات الکتریکی مختلف در اطراف ایجاد می شود، به طور جدی در کار اندازه گیری ضخامت مغناطیسی اختلال ایجاد می کند.

h ماده چسبنده

این ابزار به مواد متصل شده حساس است که از تماس نزدیک سر اندازه گیری و سطح لایه پوششی جلوگیری می کند. بنابراین، مواد متصل شده باید حذف شوند تا اطمینان حاصل شود که سر اندازه گیری ابزار در تماس مستقیم با سطح قطعه آزمایش شده است.