عوامل موثر بر مقادیر و راه حل های اندازه گیری شده

عوامل موثر بر مقادیر و راه حل های اندازه گیری شده

استفاده از ضخامت سنج ها و استفاده از ابزارهای دیگر، هر دو برای تسلط بر عملکرد دستگاه، اما همچنین نیاز به درک شرایط تست دارند. استفاده از اصل مغناطیسی و اصل جریان گردابی ضخامت سنج روکش فلزی بر اساس خواص الکتریکی و مغناطیسی زیرلایه اندازه گیری شده و فاصله از پروب برای اندازه گیری ضخامت روکش است، بنابراین خواص فیزیکی الکترومغناطیسی زیرلایه و ابعاد فیزیکی اندازه گیری شده باید بر اندازه شار مغناطیسی و جریان گردابی تأثیر می گذارد. یعنی بر قابلیت اطمینان مقدار اندازه گیری شده تأثیر می گذارد، در زیر مقدمه ای بر این جنبه از مسئله است.

1. فاصله مرزی
اگر کاوشگر و اندازه‌گیری‌شده مرزهای بدنه، سوراخ‌ها، حفره‌ها، سایر تغییرات سطح مقطع در فاصله کمتر از فاصله مرزی مشخص‌شده باشد، به دلیل شار مغناطیسی یا مقطع حامل جریان گردابی کافی نیست، منجر به خطاهای اندازه‌گیری می‌شود. اگر ضخامت روکش در این نقطه باید اندازه‌گیری شود، تنها در صورتی می‌توان آن را اندازه‌گیری کرد که روی سطحی بدون روکش در همان شرایط از قبل کالیبره شده باشد. (توجه: محصولات ما دارای ویژگی منحصر به فرد کالیبراسیون از طریق روکش فلزی برای دستیابی به دقت 3 تا 10٪ هستند.

2. انحنای سطح بستر
یک مقدار اولیه را روی یک نمونه مقایسه مسطح کالیبره کنید و پس از اندازه گیری ضخامت روکش، این مقدار اولیه را کم کنید. یا به مقاله زیر مراجعه کنید.

3. zui حداقل ضخامت فلز پایه
فلز پایه باید حداقل ضخامت معینی داشته باشد تا میدان الکترومغناطیسی کاوشگر بتواند به طور کامل در فلز پایه قرار گیرد. حداقل ضخامت مربوط به عملکرد ابزار اندازه گیری و ماهیت زیرلایه فلزی است و درست بالاتر از این ضخامت می توان بدون اصلاح مقدار اندازه گیری شده اندازه گیری را انجام داد. اثر ضخامت ناکافی بستر را می توان با قرار دادن یک قطعه از همان ماده بلافاصله در زیر بستر از بین برد. اگر اضافه کردن یک زیرلایه دشوار یا غیرممکن باشد، می توان با مقایسه با نمونه ای با ضخامت روکش مشخص، تفاوت را از مقدار نامی تعیین کرد. این در اندازه گیری در نظر گرفته می شود و مقدار اندازه گیری شده مطابق با ماده 2 یا مطابق با ماده 2 تصحیح می شود. برای ابزارهایی که می توانند کالیبره شوند، می توان با تنظیم یک دستگیره یا کلید، قرائت مستقیم دقیق ضخامت را بدست آورد. در مقابل، همانطور که در بالا ذکر شد، استفاده از ضخامت برای ایجاد تأثیر توسعه اندازه گیری مستقیم ضخامت سنج فویل مسی بسیار کوچک است.

4. زبری سطح و تمیزی سطح
در ناهمواری سطح به منظور به دست آوردن یک معرف مقدار اندازه گیری متوسط ​​باید چندین بار اندازه گیری شود. بدیهی است که هرچه سطح زبرتر باشد، چه بستر یا روکش، اندازه گیری قابل اطمینان کمتری است. برای به دست آوردن داده های قابل اعتماد، متوسط ​​زبری Ra زیرلایه باید کمتر از 5 درصد ضخامت روکش باشد. در مورد ناخالصی های سطحی، آنها باید حذف شوند. برخی از سازها دارای محدودیت های بالا و پایین برای از بین بردن آن "نقاط پرواز" هستند. 5.

5. نیروی اندازه گیری پروب
نیروی اندازه گیری پروب باید ثابت باشد. و باید تا حد امکان کوچک باشد تا باعث تغییر شکل روکش نرم و در نتیجه کاهش مقدار اندازه گیری شده یا نوسانات زیاد نشود. در صورت لزوم می توان یک فیلم سخت و غیر رسانا با ضخامت معینی بین این دو قرار داد. به این ترتیب با کم کردن ضخامت فیلم می توان مغناطیس باقیمانده را به درستی بدست آورد.

6. میدان های مغناطیسی ثابت خارجی، میدان های الکترومغناطیسی و مغناطیسی پسماند زیرلایه
از اندازه گیری های نزدیک میدان های مغناطیسی خارجی با اثرات مزاحم باید اجتناب شود. مغناطیس باقیمانده بسته به عملکرد آشکارساز می‌تواند منجر به خطاهای اندازه‌گیری کم و بیش شود، اما این معمولاً برای فولادهای ساختاری، صفحات فولادی با شکل‌دهی عمیق و غیره صادق نیست.

7. اجزای فرومغناطیسی و رسانای مواد روکش