ضخامت پوشش ضخامت اصل اندازه گیری جریان جریان
سیگنال های AC با فرکانس بالا زمینه های الکترومغناطیسی را در سیم پیچ پروب ایجاد می کنند و هنگامی که پروب به هادی نزدیک می شود ، جریان های ادبی در درون آن شکل می گیرند. هرچه کاوشگر به بستر رسانا نزدیکتر باشد ، جریان گرداب بیشتر و امپدانس بازتاب بیشتر می شود. این مقدار عمل بازخورد فاصله بین کاوشگر و بستر رسانا را مشخص می کند ، یعنی ضخامت پوشش غیر رسانا روی بستر رسانا. با توجه به این واقعیت که این نوع پروب سنج ضخامت پوشش به طور خاص برای اندازه گیری ضخامت پوشش ها بر روی بسترهای فلزی غیر فرومغناطیسی طراحی شده است ، معمولاً به عنوان یک کاوشگر غیر مغناطیسی گفته می شود. پروب غیر مغناطیسی از مواد فرکانس بالا به عنوان هسته سیم پیچ استفاده می کند. در مقایسه با اصل القاء مغناطیسی ، تفاوت اصلی این است که کاوشگر سنج ضخامت پوشش متفاوت است ، فرکانس سیگنال متفاوت است و اندازه سیگنال و رابطه مقیاس متفاوت است. سنج ضخامت پوشش بر اساس اصل جریان ادی می تواند پوشش های غیر رسانا را بر روی کلیه بسترهای رسانا ، مانند سطوح فضاپیما ، وسایل نقلیه ، لوازم خانگی ، درها و ویندوزهای آلیاژ آلومینیوم و سایر محصولات آلومینیومی از جمله رنگ ، پوشش پلاستیکی و فیلم های آنودایز اندازه گیری کند. مواد پوشش دارای درجه خاصی از رسانایی است که می تواند از طریق کالیبراسیون نیز اندازه گیری شود ، اما لازم است که نسبت هدایت بین این دو حداقل {5}} برابر باشد. اگرچه بستر فولادی نیز یک هادی است ، اما هنوز هم استفاده از اصول مغناطیسی برای اندازه گیری ضخامت پوشش برای چنین کارهایی مناسب تر است.
چندین عامل مؤثر در اندازه گیری سنج ضخامت پوشش. روش مغناطیسی برای اندازه گیری ضخامت در اثر تغییر در خواص فلز پایه تحت تأثیر قرار می گیرد (در کاربردهای عملی ، تغییر در خواص مغناطیسی فولاد کربن کم می تواند اندک تلقی شود). برای جلوگیری از تأثیر عملیات حرارتی و فاکتورهای پردازش سرما ، صفحات استاندارد با همان خواص مانند فلز پایه نمونه برای کالیبراسیون ابزار باید استفاده شود. هدایت فلز پایه تأثیر بر اندازه گیری دارد و هدایت فلز پایه مربوط به ترکیب مواد و روش تصفیه حرارت آن است. از صفحات استاندارد با همان خصوصیات فلز پایه نمونه استفاده کنید تا ابزار را کالیبراسیون کنید. هر ساز دارای ضخامت بحرانی است که فراتر از آن اندازه گیری تحت تأثیر ضخامت فلز پایه قرار نمی گیرد. به تغییرات شیب دار در شکل سطح نمونه حساس است ، بنابراین اندازه گیری در نزدیکی لبه یا گوشه داخلی نمونه غیرقابل اعتماد است. انحنای نمونه در اندازه گیری تأثیر دارد و با کاهش شعاع انحنای به میزان قابل توجهی افزایش می یابد. بنابراین ، اندازه گیری روی سطح نمونه های خم نیز غیرقابل اعتماد است. کاوشگر باعث تغییر شکل نمونه های پوشش نرم خواهد شد ، بنابراین داده های قابل اعتماد در این نمونه ها قابل اندازه گیری نیستند. زبری سطح فلز و روکش پایه در اندازه گیری تأثیر دارد. افزایش زبری منجر به افزایش ضربه می شود و سطوح خشن می تواند باعث ایجاد خطاهای سیستماتیک و تصادفی شود. بنابراین ، برای غلبه بر این خطای تصادفی ، تعداد اندازه گیری ها باید در موقعیت های مختلف افزایش یابد. اگر فلز پایه روی بستر خشن باشد ، لازم است چندین موقعیت را در نمونه فلزی پایه بدون پوشش با زبری مشابه برای کالیبراسیون نقطه صفر ابزار ، یا حل و حل کردن پوشش با محلول که فلز پایه را خراب نمی کند ، برداشته و سپس نقطه صفر ابزار را کالیبره کنید. میدان مغناطیسی قوی تولید شده توسط تجهیزات الکتریکی مختلف در اطراف می تواند به طور جدی در کار اندازه گیری ضخامت مغناطیسی تداخل داشته باشد. مواد پیوست شده که مانع تماس نزدیک بین کاوشگر و سطح پوشش می شوند باید برداشته شوند. در اندازه گیری ، فشار باید ثابت نگه داشته شود ، و برای دستیابی به اندازه گیری دقیق ، پروب باید عمود بر سطح نمونه نگه داشته شود.
