ساختار سیستم میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM).
1. بخش تشخیص نیرو:
در سیستم میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، نیرویی که باید تشخیص داده شود نیروی واندروالسی بین اتم ها است. بنابراین در این سیستم از یک کنسول برای تشخیص تغییرات نیرو بین اتم ها استفاده می شود. این میکروکنتیور دارای مشخصات مشخصی از جمله طول، عرض، ضریب کشسانی و شکل نوک سوزن می باشد و انتخاب این مشخصات بر اساس مشخصات نمونه و حالت های مختلف عملکرد بوده و انواع مختلف پروب انتخاب می شود.
2 بخش تشخیص موقعیت:
در سیستم میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، هنگامی که برهمکنش بین نوک سوزن و نمونه وجود دارد، کنسول کنسول نوسان می کند. بنابراین وقتی لیزر در انتهای کنسول تابش می‌کند، موقعیت نور بازتاب‌شده نیز به دلیل نوسان کنسول تغییر می‌کند و در نتیجه ایجاد افست می‌شود. در کل سیستم، از آشکارساز موقعیت نقطه لیزری برای ثبت افست و تبدیل آن به سیگنال الکتریکی برای پردازش سیگنال توسط کنترلر SPM استفاده می شود.
3 سیستم بازخورد:
در سیستم میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، پس از دریافت سیگنال توسط یک آشکارساز لیزری، به عنوان سیگنال بازخورد در سیستم بازخورد به عنوان سیگنال تنظیم داخلی استفاده می‌شود و اسکنر معمولاً از لوله‌های سرامیکی پیزوالکتریک ساخته می‌شود تا حرکت کند. برای حفظ نیروی مناسب بین نمونه و نوک سوزن.
میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) سه بخش فوق را برای ارائه ویژگی های سطح نمونه ترکیب می کند: در سیستم AFM، یک کنسول کوچک برای حس کردن تعامل بین نوک سوزن و نمونه استفاده می شود. این نیرو باعث چرخش کنسول می شود و سپس از لیزر برای تابش انتهای کنسول استفاده می شود. هنگامی که نوسان تشکیل می شود، موقعیت نور منعکس شده تغییر می کند و باعث افست می شود. در این زمان، آشکارساز لیزری این افست را ثبت می کند و همچنین سیگنال را در این زمان به سیستم بازخورد ارائه می دهد تا تنظیم مناسب سیستم را تسهیل کند. در نهایت مشخصات سطح نمونه در قالب تصویر ارائه خواهد شد.
